News
新闻资讯
tanδ(DF)的测试条件
2024-01-04
作者:
浏览量:
1.测试电压和频率
根据IEC-60384-1标准,tanδ(DF)测试条件跟其容值的测试条件一样,通常 LCR 测试仪可以同时测量容值(CP)和损耗因数(DF)。Tanδ(DF)具体测试条件请参照Ⅰ类陶瓷绝缘介质(NPO)测试条件和Ⅱ类和Ⅲ类陶瓷绝缘介质(X7R/X5R/Y5V)测试条件。关注电容领域,专业知识分享,提供稳定、可靠的电容检测服务,赋能中国制造业升级! 电容检测+V:18676748747。
2.测量仪器要求
针对I类陶瓷绝缘介质(NPO测量设备误差不超过3x10-4,针对陶瓷绝缘介质测量设备误差不超过 1x10-3。目前测量 MLCC 较为权威的设备是德科技的 LCR 测试仪,型号为E4980A(替代安捷伦HP4284A 和HP4287A),其配套测试夹具型号为 16034E/G。电容检测,怎么看出贴片电容失效,电容失效怎么办,电容测试。
暂无数据