在本号的许多测试文章中，测量的容值因给定的条件而发生变化。为了避免老化的干扰作用，在测试前对电容器进行了特殊的预处理，测试样品应置于上限类别温度下加热1h，并在标准大气条件下静置 24h 再进行测试。对于那些居里温度低于上限类别温度的电容器，这将导致去老化，如果可能的话，还会起到调节作用，使电容器的老化时间不超过24h，从而使老化影响变成最低。电容不会测量怎么办，买电容要找谁？深圳有没有检测电容的?谁知道电容检测怎么做？

如果介质的居里温度高于上限类别温度，特殊预处理不能完全使电容器去老化，但这仍将把电容器带入一个新的状态，它并不再那么依赖于之前的老化历史，因为去老化效果也许早在居里温度点以下就诱发了。如果加热温度离居里温度点有些距离时可以通过延长时间来补偿，并且可以获得同完全去老化几乎一样的效果。

为了使这些电容器真正完全去老化，可能需要达到160℃的温度，而这个温度可能对封装有害。因此，只有少数情况下，完全去老化才是必需的，并应参阅详细规范，以了解任何必要的预防措施。需要留意的是: 每一处贴片陶瓷电容器的焊接过程就是相当于一次去老化。电容器技术趋势，超小型电容器，电子元器件分销，电容代理商，电容器行业动态。

Ⅱ类贴片陶瓷电容器的“去老化”现象说明了“老化”是可逆的，这个跟塑料老化是不同的概念，“老化”是Ⅱ类和Ⅲ类陶瓷材料特性而非不良，库存时间超过 1000h 的电容器可能出现容值偏低问题，这时候极容易被客户判断为容值不良。标准的测量条件应该是先“去老化”，根据前面的去老化方法把 MLCC 加热到上限类别温度以上 1h，但是不同陶瓷介质的上限类别温度不同，这样区分比较麻烦，所以 MLCC 厂家推荐一个不分介质类别的通用的条件: 150℃下烘烤1h，然后静置24h之后再测量容值，并换算到 1000h后的容值是否在允差内。电容器选型指南可以帮助您选择适合您项目的电容器，乃棠可以提供专业的建议。