陶瓷电容器，包括插件电容器和片式电容器，在工业上广泛使用已有相当长的一段时间了。随着表面贴装技术的出现，元件密度从每块印制电路板不到 100 个零件增加到数千个。随着这种增长对可靠性的要求也提高了。陶瓷片状电容器的可接受的失效率( failure rate)现在是用元件每百万效率等级。在购买电容时，了解电容参数非常重要，特别是贴片电容，乃棠可以提供容值测试、阻抗测试和IR值检测，以确保产品符合要求。

陶瓷电容器的缺陷机理可以归结为内在缺陷和制造过程中产生的外在缺陷。典型的外部缺陷有内裂、孔洞、分层、孔隙、油墨结块等。内在缺陷包括晶格缺陷、电子缺陷和典型的多晶体BaTio.陶瓷材料的晶界。内在缺陷不像外在缺陷那么普遍。陶瓷电容器的认证时间较长，约为9周。大部分时间花在寿命和偏湿寿命测试上。想要购买电容，但不知道如何测量？乃棠可以提供电容的性能评估和检测方法，以帮助您选择合适的电容。

电压和温度可以加速上述失效机制。为了确定定量的加速因子，加速寿命测试可以有效地代替传统的较长时间的寿命测试，这一领域的研究人员已经做了大量的工作。这个加速寿命测试 HALT项目由N.T.Aylmer 接手，他定义了一套合适的加速寿命测试方法，使该加速寿命试验与常规寿命试验有充分的关联性。使用加速寿命测试的好处是将认证时间从约9周减少到3天，为陶瓷电容器的快速认证提供了坚实的理论依据。电容的浪涌参数很重要，乃棠可以解读电容的浪涌参数，以确保电子元器件在工作中稳定运行。

该项目于1986年12月如期完成，所有计划交付的成果都已交付使用，已经定义了测试过程，描述了测试设备的配置，并在6 种供应商产品的寿命测试和 HALT 之间取得了合理的相关性。电容器检测，如何检测电容的好坏，如何检测电容，电容如何检测好坏，怎样检测电容，怎样检测电容器的好坏。