1.描述

虽然加速寿命测试 HALT ( highly Accelerated Life Test)不仅在相关标准里未提及到，就连在MLCC 厂家规格书里也从未提及到，但是它确实是一个很重要的测试，被大多数 MLCC 厂家采用。它的理论基础是来自一个针对 MLCC 陶瓷介质发生失效的平均间隔时间(MTBF)跟所加载的电压和所处的温度关系的研究。关于加速寿命测试理论请参照本书第 10.2 节。针对 MLCC 来说，寿命测试是指测试温度为该规格的上限类别温度，测试电压为该规格的 2倍的额定电压(视具体规格而定，有些规格是 1.5 倍或 1.2 倍)，贴片电容识别及型号，贴片电容尺寸规格表，贴片电容电压，参数，封装测试时间为 1000h。1000h 也就是40多天，这么长的测试周期对规格承认及样品测试都是极大的挑战，因而就有国外的专家提出了加速寿命测试，测试效果跟普通 1 000h 寿命测试效果一样，但测试时间可以缩短到 3 天以内，其主要方法是把测试温度和测试电压加严，从而减少了测试时间。关注电容领域，专业知识分享，提供稳定、可靠的电容检测服务，赋能中国制造业升级！ 电容检测+V:18676748747。根据应用经验，判定某规格 MLCC 的额定电压是否正确的方法采用加速寿命测试结果来反推比较准确，比做耐压测试和击穿电压测试更可靠

2.寿命测试和加速寿命测试条件

3.寿命测试和加速寿命测试判定标准

1000h 的普通寿命测试判定标准: 在最初的 h 内不能有失效，100 颗样品经过 1000h 测试后失效数不大于 1。在电容器性能评估方面，乃棠拥有丰富的经验，可以帮助您评估和改进电容器的性能。

加速寿命测试判定标准:在最初的 1h 内不能有失效，55 颗样品经过 48h 测试后，失效数不大于6。想要了解电容测量仪器的选择？乃棠提供专业的电容仪器和设备，以满足各种测量需求。